点击查看下载日本电子透射电镜JEM-ARM200F NEOARM 样本相关资料，进一步了解产品。

JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者，近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好，稳定性强且智能化程度高，操作得心应手，是材料表征和分析的绝佳选择。

技术参数：

1.分辨率：STEM图像分辨： 0.071 nm 
          TEM点分辨：0.19 nm (0.11 nm with TEM Cs corrector）
 2.放大倍数：STEM 100 to 150,000,000x
           TEM50 to 2,000,000x
 3.加速电压： 200 kV
 4.球差校正器STEM Cs corrector Standard
             TEM Cs corrector Optional
 5.其他附件EDS/EELS /CCD camera, etc.

主要特点：

原子分辨率 S/TEM 
 标配照明系统的球差校正器，STEM分辨率 0.071 nm, 为世界zei高的商业化透射电镜，同时使其具有无与伦比的分析功能。
 
 极强的抗干扰能力和超高稳定性
 JEM-ARM200F采用多种新技术和设计确保实现原子级的分辨率和分析能力。

可以选配成像系统的球差校正器
 点分辨率可以提高到 0.11 nm.
 
  自动球差校正软件，操作极为简单
 克服了球差校正透射电镜难于操作的难题。