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很多原因都可能导致您不得不二次测量样品。测量过程中可能发生样品混淆或其他问题。您可能只有在 QC 溶液分析失败或者检查结果并注意到异常时才会发现问题。无论出于何种原因，重新测量样品都非常费时、令人倍感压力且成本高昂。 必须重新测量样品的原因通常分为两类：仪器相关问题和样品相关问题。样品相关问题包括从样品消解和前处理到样品基质问题和样品混淆的各种问题。 本文介绍了如何避免其中常见的问题及如何应对，从而节省时间。

Agilent 5110 同步垂直双向观测 (SVDV) ICP-OES 具有独特的智能光谱组合 (DSC) 技术，可以实现同步的水平和垂直测量。配合使用垂直炬管与速度更快且无需气体吹扫的 VistaChip II CCD 检测器，5100 ICP-OES（也称作 ICP-AES）能够以一半的氩气用量来运行zei具挑战的样品，速度可提升 55%，并且不影响任何分析性能。

产品特性：

- 独特的智能光谱组合 (DSC) 技术可实现同步水平和垂直信号测量，消耗更少气体即可运行zei快的 ICP-OES 分析

- 高级阀系统 (AVS) 可降低每次分析成本并使分析效率提高一倍以上

- 垂直炬管设计可以测量包括高基质和挥发性有机溶剂在内的复杂样品

- 通过分析过程中精准气泡注入控制，可选 AVS 能够有效缩短样品提升、稳定时间和清洗延时，从而实现高精度的分析

- 固态 RF 系统可提供稳定的等离子体，确保长期稳定的分析性能

- IntelliQuant 模式使样品中的所有元素一目了然，大大简化了方法开发过程并实现了快速样品筛选

- 直观的 ICP Expert 软件和 DSC 技术使方法开发更为便捷流畅

- 完全集成式切换阀与即插即用式炬管极大程度减少了培训需求，确保实现快速启动。

- 5110 提供三种灵活配置：同步垂直双向观测、垂直双向观测和垂直观测。