产品描述
点击查看下载 聚焦离子束加工观察系统扫描电镜JIB-4000 观察和分析磁性样品相关资料，进一步了解产品。
JEOL热场发射扫描电镜的无漏磁物镜设计，使得观察和分析磁性样品变得非常容易，即使是磁性粉末或者磁性极强的样品也没有问题。
JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统
JIB-4000聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后，就能对样品表面进行SIM观察 、研磨，沉积碳和钨等材料。还可以为TEM成像制备薄膜样品，为观察样品内部制备截面样品。通过与SEM像比较，SIM像能清楚地显示出归因于晶体取向不同的电子通道衬度差异，这些都非常适合于评估多层镀膜的截面及金属结构。
产品特点：
JIB-4000聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后，就能对样品表面进行SIM观察 、研磨，沉积碳和钨等材料。还可以为TEM成像制备薄膜样品，为观察样品内部制备截面样品。通过与SEM像比较，SIM像能清楚地显示出归因于晶体取向不同的电子通道衬度差异，这些都非常适合于评估多层镀膜的截面及金属结构。
高性能FIB镜筒
JIB-4000采用高性能的FIB镜筒，zei大离子束流高达 60 nA，能进行快速研磨。大电流下的快速加工尤其适合于大面积的研磨，制备100 μｍ以上用来观察的截面非常轻松。
用户友好的FIB装置
JIB-4000高性能的 FIB镜筒具有出色的可操作性。用户友好的外观和GUI设计，建立了使用方便的FIB系统。即使不是FIB专家也能够轻松操作，此外，该装置小巧紧凑为业界zei小体积，安装地点的选择范围很大。
双样品台
JIB-4000标配的块状样品马达驱动样品台可供块状样品使用，此外还可以增配侧插式测角台（TEM用Tip-on 样品架可以直接插入）。块状样品马达驱动样品台能观察整个表面为20 mm x 20 mm的块状样品，样品交换可以通过气锁式系统快速进行。侧插式测角台与JEOL的TEM系统使用的相同，因此Tip-on （尖端上可以安装附件的）样品架与JEOL的TEM系统可以通用，这样，FIB加工和TEM观察的反复交替就能很容易地进行。
丰富的附件
有各种附件可用来支持JIB-4000的操作。包括对电路修改应用特别有效的CAD导航系统，对特殊形状加工有效的矢量扫描系统等。通过给JIB-4000安装适当的附件，该系统可以支持样品制备以外的应用。
产品规格
FIB
| 离子源 | Ga （镓）液态金属离子源 |
| 加速电压 | 1～30ｋV（5 kV/步） |
| 放大倍率 | ×60 （用于视场搜索） ×200～×300,000 |
| 图像分辨率 | 5 nm (30 kV) |
| zei大束流 | 60 nA (at 30 kV) |
| 可变光阑 | 12 档(马达驱动) |
| 离子束加工形状 | 矩形、线状、点状 |
| 样品台 | 块状样品用 5 轴测角样品台 X:±11 mm Y:±15 mm Z:0.5 ～ －23 mm T:－5 ～ ＋60° R:360°无限 样品zei大尺寸: 28 ｍｍφ（高度13 ｍｍ）、50 ｍｍφ（高度2 ｍｍ） |
主要附件
气体注入系统 (IB-02100GIS2)
碳沉积圆筒 (IB-52110CDC2)
钨沉积圆筒(IB-52120WDC2)
白金沉积圆筒 (IB-52130WDC2)
侧插式测角样品台 (IB-01040SEG)
束流探测器 (IB-04010PCD)
操作面板(IB-05010OP)
样品台导航系统 (IB-01200SNS)
FIB Tip-on(尖端上可以安装附件的)样品架(EM-02210)
FIB 块状样品用样品架FIB (EM-02220)
FIB 块状样品用样品架1(EM-02560FBSH1)
FIB 块状样品用样品架2 (EM-02570FBSH2)
FE-SEM 样品架适配器 (EM-02580FSHA)
穿梭移动夹头Shuttle Retainer EM-02280 (EM-02280)
原位样品提取系统 (EM-02230)
