劳厄系统 晶体定向与特性分析

  数字化X射线劳厄解决方案

• 系统采用独特的背向散射角度采集和最终对准精度可以低至0.2度（高端需求可达0.02度），与高灵敏度偏振片相比，曝光时间可减少2个数量级以上，实现实时劳厄图案记录。

•   结合电动样本旋转平台，系统的晶体定位程序变得更简单、更灵活。

•   采集软件从电脑提供准备好索引的数字图像到Linux程控设备，系统利用Orient Express软件分析图像，获得晶向或用已知结构对现有晶体进行标引。

集成光束准直到数字劳厄探测器，比薄膜图案采集快10倍以上

• 数字劳厄探测器允许比薄膜更快的收集

• 相机系统可安装铜、钼或者钨靶X光源（长细聚焦、细聚焦或者点聚焦）。X光源在相机内准直后直接照射到样品上，可与高灵敏度偏振片的净磁通增益相当。根据晶体材料和使用光源，可以在1至30秒曝光后记录劳厄图案。

  数字化X射线劳厄探测器可以在一小时内安装，替代传统的偏振劳厄感光片

• 数字劳厄相机配备了综合校准套件，技术人员/工程师可以对传统的胶片暗盒探测器进行升级换代。

• 准直器的选择，可以让你根据测量晶体种类选择正确的通量/分辨率。

• 标准数字化劳厄相机比高灵敏度偏振片减少了两倍的数据采集时间。