型号:PILATUS4 R CdTe
品牌:DECTRIS
产地:瑞士
发布时间:2023年08月
凭借高于 95% 的极高量子效率,及其高达 155 x 162 毫米的极大有效面积,PILATUS4 R CdTe 探测器可对基于从铜(Cu)到铟(In)的任何X射线源的快速数据收集。特别是对于钼(Mo)、银(Ag)和铟(In)辐射,PILATUS4 R CdTe 的性能优于任何配有硅传感器的 HPC 探测器 - 甚至包括目前拥有最厚的硅传感器的 PILATUS3。 PILATUS4 凭借出色的计数率和无探测器背景噪声的特点,实现了跨越十个数量级的广泛动态范围,高达 200Hz 的内部帧速,进一步优化了计数率校准,从而确保高强度测量的高度准确性。此外,PILATUS4 还具备四个能量区分阈值,为劳厄衍射和光谱成像等应用带来了新的可能。
PILATUS 4 R CdTe | 1M | 260K | 260K-W |
有效成像面积 (W x H) [mm²] | 155.0 x 162.0 | 77.0 x 79.5 | 155.0 x 38.3 |
像素阵列 (W x H) | 1,033 x 1,080 | 513 x 530 | 1,033 x 255 |
像素大小 (W x H) [µm²] | 150 x 150 | 150 x 150 | 150 x 150 |
能量范围 [keV] | 8 - 25 (8 - 100)1 | 8 - 25 (8 - 100)1 | 8 - 25 (8 - 100)1 |
能量阈值数量 | 4 | 4 | 4 |
阈值范围 [keV] | 4 - 30 (4 - 80)1 | 4 - 30 (4 - 80)1 | 4 - 30 (4 - 80)1 |
计数率 [ph/s/pixel] | 5.0 x 106 | 5.0 x 106 | 5.0 x 106 |
帧频 [1] (max.) [Hz] | 10 | 100 | 100 |
读出时间[2] | Continuous | Continuous | Continuous |
传感器材料 | Cadmium telluride (CdTe) | Cadmium telluride (CdTe) | Cadmium telluride (CdTe) |
传感器厚度 [µm] | 1,000 | 1,000 | 1,000 |
点扩散函数 (FWHM) [pixels] | 1 | 1 | 1 |
尺寸(W x H x D) [mm³] | 235 x 237 x 372 | 114 x 133 x 242 | 192 x 92 x 277 |
重量 [kg] | 15 | 4.7 | 5.8 |
瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器PILATUS4 R CdTe