采用DECTRIS混合像素技术的ELA®探测器为电子能量损失谱(EELS)提供了前所未有的速度,灵敏度和动态范围,是用于EELS的理想电子计数探测器。它可以处理远远超过100pA的探针电流,同时记录高强度的零损峰和高损峰,并在全能量谱范围内进行单电子计数。其高帧频速率允许一次性快速获取元素面分布结果,特别适合电子束敏感材料的分析。得益于其无死区读出能力,您不仅不会在两帧图像之间丢失电子,确保能够收集样品所能提供的所有信息。与高分辨率光谱仪相结合,DECTRIS ELA 探测器将显著改进 EELS和4D-STEM 等应用发展,使您的实验在几分钟内完成,同时提高仪器的利用率,并大大减少操作时间。
技术规格
帧速率 | 2,250 Hz at 16 bits 4,500 Hz at 8 bits 18,000 Hz with ROI mode |
计数能力 | > 1 pA/pixel |
像素数 | 1,024 x 512 |
传感材料 | 硅(Si) |
图像深度 | 32 bits |
能量范围 | 30-200 keV |
点扩散函数 | < 1.3 pixel at 200 keV |