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价格:
5000000
JEM-ARM300F2日本电子冷场发射12极子球差校正透射电镜
产品属性
品牌
日本电子
产地
日本
型号
JEM-ARM300F2
关注度
0
信息完整度
关闭
产地:日本; 品牌:日本电子
PIPES指数:
8
用户:
0
新闻:
0
应用:
0
产品描述
2020年02月14日,日本电子(JEOL株式会社)总裁兼首席运营官IzumiOi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2(GRANDARM™2)。
■ 主要特点
1.超高空间分辨率与能谱分析的组合优化。
新开发的FHP2物镜极靴的特点如下:
1)提高了能谱分析效率到两倍以上。
2)低光学系数,低Cc系数和低Cs系数使得超高空间分辨率和高灵敏度X射线分析能够在一定范围的加速电压下执行。(保证的STEM分辨率:300kV时53pm,80kV时96pm)
**在配置STEM扩展轨迹像差(ETA)校正器时,用于物镜的超宽极靴(WGP)能谱分析灵敏度超高,原位扩展极强。
1)WGP极靴的能谱固体角为2.2sr。
2)WGP极靴宽度可达6mm,更方便进行各种类型的原位实验。
3. JEOL开发的12极子球差(Cs)校正器和自动校正软件。
1)FHP2极靴,GRANDARM™2在300kV时的STEM分辨率达到53pm。
2)WGP极靴,GRANDARM™2在300kV时的STEM分辨率达到59pm。
3)JEOLCOSMO™(自动校正软件)使快速,轻松执行像差校正成为可能。
4.新式冷场发射枪(Cold-FEG)。GRANDARM™2配备了新式Cold-FEG,可从电子源提供较小的能量散布,稳定性更好。
5.减轻外部干扰的外壳。这种新外壳是减少外部干扰(例如气流,室内温度变化和噪音)的标准。
■ 主要规格
保证分辨率HAADF-STEM图像:53pm(带ETA校正器和FHP2)
电子枪:冷场发射枪(Cold-FEG)
加速电压标准:300kV和80kV
能量色散X射线光谱仪大面积SDD(158mm 2):可以使用双探测器冷场发射12极子球差校正透射电镜
信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供,如您想了解更多关于冷场发射12极子球差校正透射电镜报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
日本电子株式会社(JEOL)
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