贝克曼库尔特公司推出了全新一代LS13320XR激光衍射粒度分析仪，实现了更高水平的提升。升级版PIDS专利技术，优化了132枚检测器，确保了仪器具备更高的分辨率、更准确的结果和更好的再现性。
LS13320XR不仅可以测量更宽范围的颗粒大小，还能更快速、更可靠地检测到颗粒之间微小的差异。全新软件界面更加直观，操作更加简便，只需点击几次即可获取所需的数据。
LS13320XR是一款全自动、高准确性、高分辨率、高重现性、操作简便的干湿两用粒度分析仪，采用全程Mie光散射理论并提供Fraunhofer理论模型。配备多种新型样品进样模块，满足不同的分析需求，操作灵活方便；采用专利的PIDS技术，真正实现了10nm粒径测量。
LS13320XR将为您带来全新的测量体验，实现更高分辨率的精确测量，范围广泛，真实可靠的测试数据。
升级版PIDS技术解决了纳米测量的挑战，提高了原始数据的检测精度，增强了检测器对垂直和水平偏振散射光的敏感性，实现了亚微米级粒度分析。软件操作简单直观，节省时间。
LS13320XR配备符合GMP验证要求的程序，满足安装验证和运行验证的需求，简化了日常工作，操作轻松便捷。
LS13320XR帮助您实现准确测量细微差异，采用132枚检测器保证更高的分辨率和更准确的检测结果，实现宽范围的测量。X-D阵列检测器确保高分辨率的准确测量，通过业界领先的技术实现多峰样品的自动检测，让您更加放心。
LS13320XR真正实现了纳米级测量，提供亚微米颗粒更高分辨率的粒度分析，让您更加放心。PIDS专利技术确保了测量的准确性和可靠性，让您得到满意的测量结果。PIDS技术采用了3种不同波长的光连续照射样品，首先垂直偏振，然后水平偏振，通过比较每个波长的水平和垂直辐射光的差异，得到了亚微米样品准确的粒度分布信息。
升级版PIDS专利技术对光源、滤波器和检测器都进行了全面升级，使得测量亚微米颗粒的动态范围和分辨率都得到了更大程度上的提高。LS13320XR粒度分析仪最大的改进在于可以察觉到微小差异。LS13320XR采用先进的PIDS技术，为您提供出色的粒度分布数据，实现高分辨率的测量和扩展动态范围。
与LS13320相似，XR分析仪提供快速、精准的结果，简化工作流程以达到最佳效率。一些重大改进可让您更容易发现微小差异，这些微小差异对您的粒度分析数据将产生重大影响。直接测量范围在10nm至3,500µm之间，能自动突出显示合格/不合格结果，实现更快速的质量控制。增强版软件简化了标准测量方法的创建，全新的控制标准充分验证仪器/模块的性能。
LS13320XR功能包括发现微小差异，扩展测量范围：10nm至3,500µm。激光衍射结合先进的偏振光强度差散射（PIDS）技术，实现高分辨率的测量并汇报最小为10nm颗粒的真实数据。
ADAPT软件简化了标准测量方法的创建过程，符合《美国联邦法规》第21章第11部分的规定。可定制的安全系统满足多元化需求，选择4种不同的安全级别，高级别的安全配置符合《美国联邦法规》第21章第11部分的规定。
PIDS技术能直接检测大小为10nm的颗粒，使用3种波长的光（450、600和900nm），通过垂直和水平偏振光照射样品，分析仪从多角度测量样品的散射光，提供每种波长水平和垂直辐射光之间的差异，为您提供高分辨率的粒度分布数据。