CRAICUVM-1全光谱显微镜具备全球独特性，光谱范围覆盖深紫外至近红外
CRAICUVM-1全光谱显微镜（UV-visible-NIRmicroscope）采用了紫外及近红外成像技术与宽带显微技术的结合设计，可完美展现紫外-可见-近红外成像
UVM-1TM显微镜结合了尖端技术和CRAIC公司光学技术创新，用户可通过单一设备完成整个宽光谱范围内的显微成像
UVM-1TM以其卓越的高分辨率和光谱成像能力，代表了显微成像领域的顶尖水平
多功能性系统设计使得用户能够在一台显微镜上获得紫外-可见-近红外高分辨成像和分析结果，满足各行各业的需求
紫外显微镜对半导体内微量异物具有高灵敏性，可解决细微变化问题；而近红外显微镜可对硅晶片设备内部的电子电路进行无损、有选择性的精确成像
UVM-1TM全光谱显微镜使用创新光学设计、高分辨率数字相机和高倍数显微物镜，在全光谱范围内获得高质量高分辨彩色成像
UVM-1TM全光谱显微镜是一款强大的显微光谱分析工具，灵活适用于各种领域。