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年轮分析仪,年轮分析系统
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年轮分析仪,年轮分析系统
PIPES指数:1.0用户:应用:

型号型号:LA-S

品牌品牌:

产地产地:

杭州万深检测科技有限公司

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核心参数
植物根系生长监测系统/植物根系生态监测系统产品推荐
产品描述
LA-S型植物年轮分析系统至少具备以下功能:
1.植物年轮测量分析:
1)可自动判读年轮数
2)各年轮平均宽度
3)早材及晚材宽度
4)各年轮切向角度和面积
5)可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界,以及识别出很窄的树轮
6)可交互删除伪年轮、插入断年轮,可自动生成国际上通行的分析年表。分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力
7)具有年轮图线数据【暂存】【加载】特性,以便日后不断地分析比对。具有【精细】分析的“软件体视镜”特性。有路径端点【吸附】定位特性,对不满意的分析路径还可断开、删除、增加与编辑,以及可将分析结果图线保存。图线上调整角度具有跟随特性,画路径的时候可【取消】(右键菜单点【取消】或直接按【Del删除】键)
8)可直接分析zei大达到2万万像素(2亿像素)的超高精度扫描的超大幅面年轮图像。具有对年轮宽度<0.2mm的极精细年轮的自动分析能力。
9) 可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG标准格式的图像
2. 人工辅助修正:图像可放大缩小和局部观察,可实现鼠标区域选择统计。
3.自动杂质剔除:根据尺寸等方面的区别,进行自动杂质剔除。
4.辅助测量功能:
尺寸标定:自带标定功能,实现半自动的尺寸标定,XY向可分别标定修正;
长度测量:具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量;
5.数据报表导出:分析结果能导出到Excel表,以便存档和统计。还可输出分析标记图,以便发表论文用。
LA-S型植物年轮分析系统标配光学分辨率1800 dpi×3600 dpi、A3的中晶FileScan 1800XL plus高速扫描仪。植物图像分析测量精度(由扫描仪决定,可软件部分校正):X向≤±0.5 %,Y向≤±0.25%;长度测量重现性误差<±0.25%;面积测量重现性误差<±0.25%;台间测量差异<±0.25%。测量总时间:30~60秒。用户需另配计算机。

zei新产品资料、图像、实战操作视频可从http://www.wseen.com的网站下载。
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