LA-S瓜果剖切面、瓤色图像分析仪系统

一、LA-S瓜果剖切面、瓤色图像分析仪系统主要用途：用于瓜果剖切面分析、瓤色分档分析等
二、LA-S瓜果剖切面、瓤色图像分析仪系统至少具备以下功能：
1、瓜果剖面各部位分析：
1).可测西瓜的：纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、空心面积、瓤色分档分析、外周长；
2).可测哈密瓜等甜瓜的：纵径、横径、果形指数、截面积、肉厚、外周长、瓤色分档分析、种腔（纵径、横径、面积）；
3).可测苹果、梨等的：纵径、横径、果形指数、总面积、核心面积、肉色分档分析、外周长；
4).可测柑橘类水果的：纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、肉色分档分析、外周长。
2、人工辅助修正：图像可放大缩小和局部观察，可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正。
3、统计效果监视：监视和修正分析对象的精度。
4、自动杂质剔除：根据尺寸等方面的区别，进行自动杂质剔除。
5、辅助测量功能：
1）尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正；
2）长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量。

标配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800双光源彩色扫描仪，zei大分析测量面积：反射稿为A4加长幅面（35.6 cm×21.6 cm），扫描根面积30 cm×20 cm，可分辨的zei小尺寸0.008 ×0.008 mm。植物图像分析测量精度（由扫描仪决定，可软件部分校正）：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；长度测量重现性误差<±0.25%；面积测量重现性误差<±0.25%；台间测量差异<±0.25%。测量总时间：30~60秒。用户需另配计算机。
若需大幅面分析，请选配：光学分辨率1600×3200dpi、A3的Microtek Phantom 9800XL扫描仪。

zei新产品资料、图像、实战操作视频可从http://www.wseen.com的网站下载。