LC-Y型高清晰LED芯片计数分析仪系统
该套LC-Y拍照成像型计数分析仪器整合了高清晰度数字技术来鉴别zei困难的计数问题。该LED芯片专用计数仪通过高速的图像获取及视觉识别处理，准确、快速地计数LED芯片，操作简单，使用方便。用于LED芯片外延片面积测试，同样也适用于Si、Ge、Gap、GaAs、GaAlAs、GaN、四元素等抛光片外延片的面积测试。
该仪器包括新型的照明配置，以确保均匀一致的照明和LED目标增强。软件能导出每次计数分析的结果至EXCEL表等，可兼做自动二极管芯片计数。
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LC-Y型高清晰LED芯片计数分析仪系统产品参数：
 1．成像特性
图像拍摄：超大高保真光学变焦镜单反相机、真彩1510万像素CMOS芯片，9点自动对焦，超强自动消抖特性
像素分辨率：130mm/3168像素=0.041mm。
图像对焦：自动/手动对焦，可专业级地精细成像在任意LED芯片平面上
图像调整：具有图像亮度、对比度、饱和度调整功能，调整值自动记忆保存
图像观察：具有任意放大、缩小、局部观察功能
2．无影光源：
具有立体背光模式的无影照明成像方式，可确保均匀一致的照明和zei佳LED芯片成像
3．检测统计：
A 全自动LED芯片计数：可计数红、绿、蓝等各色LED芯片总数，显示和输出计数结果
B 适用芯片尺寸：可计数分析和定位的不透明LED芯片≥5mil (或0.127mm)，11×11、10×10、9×9、8×8、7×7、5×5mil×mil，或此范围内的矩形芯片均可用。
C 计数误差：方片≤0.1% ；大圆片≤0.2%
D 不需要撕下工艺保护黄纸或蓝膜。软件可配合用户修改。zei大芯片计数量≥15万pcs
E 计数速度：5～15万LED芯片/秒
F 全程电脑控制，操作简便；计数准确、快速、高效，只点一下即完成全部计数，提供条形码自动输入接口（插入条码枪即可使用）。
实测2"圆片，计数6.46万粒LED芯片的耗时为0.219秒，能精确分析计数局部粘连在一起的芯片，手工修正率≤0.1%，批量检测每小时zei快可达计数600个组板，或任何形状的碎片面积进行计数测试
简便易用：真正一键式操作，鼠标一点，结果即现。软件界面友好，提供帮助功能
辅助删补：自动估算特性，以确保接近100%正确率
目标区的个性化计数区：对视野工作区预选直径范围或矩形范围内的LED芯片计数
4．计数分析导出：
分析图像和分析结果可导出存储，以便进行产量统计和交易凭证。预留数据输出接口，全面兼容EXCEL、ACCESS、SQL等数据库软件
5．仪器规格与配置
适用视野工作区尺寸：50×50mm～130×130mm
配套设备：LED芯片自动计数仪1台（包含背光照明灯箱1台、1510万像素单反变焦数码相机1套）；LC系列电子版用户手册1本，软件锁1个、软件系统光盘1张。（电脑需另配，内存≥2GB）
仪器总尺寸、总重量：宽×深×高=38cm×31cm×34cm，～5Kg