AF 200微型自动聚焦激光测量系统

德国BMT公司生产的AF200自聚焦测头系统，可替代现有传统的位移和粗糙度测头。实现快速非接触测量表面形貌，粗糙度以及精密位移。

激光测量光束借助于物镜聚焦于物体表面，物镜的位置连续可调，激光束的焦点总是与物体表面重合，可同时测量表面轮廓和局域反射光。

AFS传感器具有表面复现度高的特点，传感器可配备微型照相机适配器，以便能够直接通过物镜对表面片段直接观察，使激光光束精密定位。特别开发、高度集成的BMT-IC技术，传感器热漂移极低。高倍率孔径物镜，保证仪器无论在垂直方向还是在水平方向均能提供较高的分辨率。
主要用途： 

◆  具有完整表面复现的表面粗糙度和轮廓测量

◆  精密位移测量

◆  微机械零件的尺寸测量

◆  金相测量

◆  振动测量

◆  厚度测量

◆  微小区域内直线度、平面度、园弧半径的测量（如转位刀片刃口、金刚石刀具）  

主要特点：

◆  非接触式表面轮廓测量、反射率的测量、垂直和横向的尺寸测量

◆  BMT-IC专利技术传感器

◆  微型化的传感器

◆  分辨率1nm

◆  测量范围2000μm

◆  光斑直径< 1μm

◆  适用于制造业所有粗糙度测量

◆  连续变焦    

主要优点：

◆  在高保真轮廓复现下对3D结构进行快速的非接触式测量                

◆  测量结果与表面结构无关    

◆  数据采集和评估可归并到已有的软件中

◆  具有可组装性，可组装到已有的系统中   

技术数据：