Moxtek公司生产的Si-PIN探测器基于公司超低噪声的JFET电路及优异的铍窗技术研制而成，主要应用于手持式或台式X射线荧光光谱仪中，作为能量分辨的探测器。
 
XPIN-XT探测器主要技术指标
有效探测面积：6 mm² 、 13 mm²
硅片厚度：450um、625um
铍窗厚度：8um、25um
准直器材料：W/Co/Ti/Al
能量分辨率：6 mm² < 170eV FWHM
                       13 mm²: < 230eV FWHM
峰背比：6mm²: 3600/1 @ 1keV (typical)
               13mm²: 3000/1 @1keV (typical)