Seeback赛贝克效应测量系统

高精度赛贝克系数测量系统！

赛贝克（Seeback）效应测量系统是用来精确测量导电物质、金属、有机导体和半导体的赛贝克系数的仪器。该设备样品台附加在焦耳-汤姆逊制冷台上可以提供70K-730K的变温范围。拥有卓越的温度稳定系和重现性，分辨率可达到0.01K。拥有极高的赛贝克系数测量精度及稳定性，精度可达到50nV。易于测量两样品，测量样品包含金属或者是薄膜

赛贝克系数测量仪、赛贝克热电效应测量系统, Seeback Measurement Systems

赛贝克效应(Seeback)是指在两种不同导体组成的闭合电路中，如果两个接点的温度不同，则两接点间会有电动势产生。赛贝克系数测量仪是用来精确测量导电物质、金属、有机导体和半导体的赛贝克系数的仪器。赛贝克(Seeback)系数测量仪主要包括赛贝克效应控制器、赛贝克样品台、温度控制器三部分。

赛贝克(Seeback)平台依附在制冷台上可以提供70K-730K和室温-730K的变温范围，结合温度控制器AUK2000可提供精确的温度控制与测量并且拥有极高的稳定性和重复性。该系统控温精度可达到±0.1K，分辨率可达到±0.01K，对温度的响应速度可达到1K/s。

赛贝克系数测量仪的工作原理大致如下，在赛贝克样品台上包含两组热电偶，一组是铜和已知热电属性的参考材料构成，一组是铜与待测样品组成(如下图所示)。其中一个接点为参考点，另一个接点为工作点。当参考点与工作接点有温差时就可以分别探测到两端电压V₁和V₂。即

(1). V₁=e₁DT(P);  (2). V₂=e₂DT(P);  所以(3).e₁=e₂ V₁/ V₂ 。由于这种直接测量不会有很高的精度，因为仪器工作时会有仪器误差、电线和连接点带来的热电效应和测量误差。为了消除这些误差分别在两个不同输入功率下进行测量即：(4).V₁(P₁)= e₁DT(P₁)+ D V₁ ; (5).V₂(P₁)=e₂DT(P₁)+ D V₂ ; D V₁D V₂ 位系统误差电压（与温度无关）。(6). V₁(P₂)= e₁DT(P₂)+ D V₁ ；(7). V₂(P₂)= e₂DT(P₂)+ DV₂ 。消除系统误差即可得到e₁=e₂[V₁(P₁)- V₁(P₂)]/[ V₂(P₁)- V₂(P₂)]，系统误差得到消除。

赛贝克效应的测量通过赛贝克控制器AUK1000来实现的。其结构紧凑小巧，可通过R232或者USB接口与电脑连接，并通过软件完成测试。赛贝克数字控制器可实时对电压进行测量并提供高精度和高重现性的测量，精度可达到50nV。

u  主要特点

l  宽的操作温度（70-730K）

l  卓越的温度稳定性和重复性（±0.1K）

l  高的测量精度（50nV）

l  实时测量与分析

l  可测量柱状或带状样品

u  主要应用

赛贝克系数测量仪是用来精确测量导电物质、金属、有机导体和半导体的赛贝克系数。

u  主要参数