椭偏仪
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椭偏仪

产品属性

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  • 型号SpecEl-2000-VIS
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产品描述
SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光,进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。波长范围200-900nm。SpecEl通过PC控制来实现折射率,吸光率及膜厚的测量。

集成的精确测量系统

SpecEl由一个集成的光源,一个光谱仪及两个成70°的偏光器构成,并配有一个32位操作系统的PC.该椭偏仪可测量0.1nm-5um厚的单膜,分辨率0.1nm,测量时间5-15秒,并且折射率测量可达0.005%。

配置说明

波长范围: 380-780 nm (标准) 或450-900 nm (可选)
光学分辨率: 4.0 nm FWHM
测量精度: 厚度0.1 nm ; 折射率 0.005%
入射角: 70°
膜厚: 单透明膜1-5000 nm
光点尺寸: 2 mm x 4 mm (标准) 或 200 µm x 400 µm (可选)
采样时间: 3-15s (zei小)
动态记录: 3 seconds
机械公差 (height): +/- 1.5 mm, 角度 +/- 1.0°
膜层数: 至多32层
参考: 不用

杭州谱镭光电技术有限公司

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