产地：日本； 品牌：日立
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CLEM (Correlative light and electron microscopy)：光学显微镜和电子显微镜的联用观察显微镜法
特色MirrorCLEM是搭配FE-SEM，迅速并准确支援CLEM解析的系统。使用此系统，在光学显微镜下从低倍率到高倍率清晰观察树脂切片目标结构后，让观察位置与FE-SEM样品台坐标信息同步，通过控制马达台在FE-SEM上可观察同一位置。此外，还可实时显示光学显微镜和FE-SEM的叠加图像。
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产品描述
