测量各类薄膜、玻璃以及镜片等的可见光透射比、紫外线透射比、太阳光透射比、可见光反射比，及材料的光谱透射率/反射率曲线，并对材料的颜色特性进行分析，实现280nm-2500nm极宽的测量范围，满足GAT744-2013 标准要求。

        核心光学设备为国家863（高技术研究发展计划）项目研究成果，获美国专利授权（专利号：US 7，978，324 B2），"国家首批自主创新产品"，"国家重点新产品"荣誉。经由院士领衔的权威专家组鉴定，获"国际领先"评价。

主要特点

1. 采用远方高精度光谱测量技术，精度高、测量速度快、稳定性好

2. 采用背照式高精度阵列探测器和优质衍射光栅，并采用带通色轮校正（BWCT）等多项杂散光修正专利技术，具有极高的光谱测量分辨率、机低杂散光

3. 高性能准直光源，保证宽波段范围的测量条件

4. 自带校正及标定功能，方便用户自行校零和定标

5. 独特的紫外-可见波段的双光路设计，可对光源进行监控和自动补偿，减少光源变化带来的误差

6. 极宽的光谱测量范围：280nm-2500nm

?  主要技术指标

?  典型应用：