产品性能:

少子寿命测试仪性能参数：

测量原理： QSSPC（准稳态光电导）；
少子寿命测量范围： 100 ns-10 ms；
测试模式：QSSPC,瞬态，寿命归一化分析；
电阻率测量范围： 3–600 (undoped) Ohms/sq.；
注入范围：10¹³-10¹⁶cm^-3；
感测器范围： 直径40-mm；
测量样品规格 标准直径: 40–210 mm （或更小尺寸）；
硅片厚度范围： 10–2000 μm；
外界环境温度： 20°C–25°C；
功率要求： 测试仪: 40W， 电脑控制器：200W ，光源：60W；
通用电源电压： 100–240 VAC 50/60 Hz；

主要特点:
　　适应低电阻率样片的测试需要，最小样品电阻率可达0.1ohmcm
　　全自动操作及数据处理
　　对太阳能级硅片，测试前一般不需钝化处理
　　能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭
　　可以选择测试样品上任意位置
　　能提供专利的表面化学钝化处理方法
　　对各道工序的样品均可进行质量监控：
　　硅棒、切片的出厂、进厂检查
　　扩散后的硅片
　　表面镀膜后的硅片以及成品电池

少子寿命测试仪

技术参数：

FAQ:

用途、光伏,硅片检测

包装、纸质包装

售后服务:一年保修,终身维护       

用途、光伏测试

包装、纸质包装

售后服务

一年保修