型号:BCT400
品牌:Sinton Instruments
产地:美国
EVG 501 晶圆键合系统
半导体检测仪刻蚀和沉积设备PlasmaPro 100 Cobra 样本
Cylindrical four point probe head 探头
少子寿命测量仪BCT-400
BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命.
因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。
作为最易于使用的测量工具--BLS,只需要有直径150mm大小的平面。如果只是测量平面样品的话,请选择BCT-400。