一、概述：

薄膜介质损耗测试仪测试频率上限达到目前国内0高的160MHz。

双扫描技术：测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

双测试要素输入：测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

双数码化调谐：数码化频率调谐，数码化电容调谐。

自动化测量技术：对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

全参数液晶显示：数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

DDS数字直接合成的信号源：确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。

计算机自动修正技术和测试回路0优化：使测试回路，残余电感减至0低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

ZJD-C型介电常数及介质损耗测试仪又称介电常数测试仪、介质损耗测试仪、介质损耗因数测试仪、介质损耗角正切测试仪、高频/工频介电常数测试仪。作为0新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器。

二、主要技术特性：

薄膜介质损耗测试仪Q 值测量范围:2 ～ 1023,量程分档：30、100﹑300﹑1000，自动换档或手动换档

固有误差:≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）

工作误差:≤ 7 ％±满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）

电感测量范围: 4.5nH ～ 140mH

电容直接测量范围: 1 ～ 200pF

主电容调节范围: 18 ～ 220pF

主电容调节准确度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％

信号源频率覆盖范围: 100kHz ～ 160MHz

频率分段（虚拟）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

频率指示误差: 3 × 10 -5 ± 1 个字

三、夹具工作特性

1、平板电容器：

极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm可选

极片间距可调范围：≥15mm

2、夹具插头间距：25mm±0.01mm

3、夹具损耗正切值：≤4×10－4 （1MHz）

4、测微杆分辨率：0.001mm

四、薄膜介质损耗测试仪配置：