OptoTop® 高精度纳米级三维形貌仪

设备介绍：
OptoTop®不仅可以测量材料的表面三维形貌，而且可以测量表面的颗粒度，纳米颗粒大小和粗糙度，以及复杂的表面磨耗性能。OptoTop®可满足研发、磨损分析、失效分析及工艺控制等领域的需求。

设备优点:

¤ 操作简便
¤ 高速数据采集能力
¤ 强大的数据分析能力
¤ 对各种材料和涂层进行智能测量
¤ 线性轮廓的微粗糙度值
¤ 实现2-D线性剖面，3-D显示表面轮廓及高度剖面

应用领域:

◆ 平坦、结构性及弯曲表面的粗糙度及结构分析
◆ 测量宏观和微观的几何结构
◆ 表面控制，例如滚动起伏（选购配件：移动式装置）


技术资料