型号:WCT-120
品牌:
产地:
KEKO高端(大型)流延机CAM-H系列
膜厚测量仪
原子层刻蚀半导体检测仪PlasmaPro 100 ALE 应用于高分子材料
WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术,包括类似平稳状态photoconductance (QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况。WCT一个高度被看待的研究和过程工具。QSSPC终身测量也产生含蓄的打开电路电压(对照明)曲线,与zei后的I-V曲线是可比较的在一个太阳能电池过程的每个阶段。
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光学轮廓仪WIVS-I
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