该仪器适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

主要性能指标：

※ 波长范围及峰值波长：UV－313探头：λ：(290～340)nm；λ_P＝313nm

※ 辐照度测量范围：(0.1～199.9×10³)μW/cm²

※ 紫外带外区杂光：UV313：小于0.05％

※ 余弦特性：符合国家二级光照度标准

※ 示值相对误差：±10％

※ 响应时间：1秒

※ 使用环境：温度(0~40)℃；湿度＜85％RH

※ 尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg

※ 电源：9V积层电池（6F22型）一只