产地：日本； 品牌：大塚电子
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FE-300膜厚仪
产品特点
●测试范围涵盖薄膜到厚膜
●基于绝对反射率光谱分析膜厚
●结构紧凑，精度高，台式经济型
●操作简单
●非线性最小二乘法实现折射率和消光系数解析
适用范围
●多层膜
●非干涉膜
●超晶格结构
●光学薄膜（ARfilm、ITO）
●FPD（ITO、PI、PC、CF）
激光粒径仪 ELSZ-2000
产品描述
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