简介：
TST350型张应力测试热台成功的将温度控制下的张应力测试过程与显微观察相结合，不仅可以测试室温到350℃温度下材料的张应力特性，同时可以观察材料在测试过程中的光学性能变化以及断裂过程。
样品固定在非常平行的不锈钢机座上，机座由精密电机控制可以朝相反的方向移动，移动方式可以恒速或恒力。温度控制可以设定恒温或程序升降温。
用户也可根据需要增加电极。
参数：
 

• 温度范围：-196℃到350℃
• 易于安装便于显微镜观察
• 样品易于安放
• 样品宽度0.001到22mm
• 样品厚度0.001到2mm
• zei小样品长度26mm
• 拉伸速度范围：1-1000um/s
• 张力范围：0.01N到20N或0.1到200N
• 张力分辨率：0.01N或0.1N
• zei大行程：80mm
• 位置分辨率：10um
• 物镜工作距离：7.5mm
• 聚光镜工作距离：12.5mm
• 温度控制速率：0.01到30℃/min