产品描述
Batop太赫兹时域光谱仪THz-TDS
产品描述：
BATOP成立于2003年，是一家隶属于德国耶拿大学的私人创新型公司。公司配备了来自于实验室领域的专业化技术开发和生产设计团队，使得其公司产品具有超高的品质和具有竞争力的价格。在过去几年里，BATOP一直致力于太赫兹光电导天线（PCA）和 太赫兹时域光谱仪系统（THz-TDS）的研发。BATOP不仅提供单带隙天线，还包括整合了微透镜的高能大狭缝交叉天线阵列。BATOP自主研发的太赫兹时域光谱仪性能稳定，各项参数优秀，功能多样：可实现快速扫描、配合外置的光纤耦合天线实现角度扫描、成像等功能。 BATOP借助强大的研发能力来不断提高自己的产品， 其研发设计理念始终从客户的角度出发，最好的满足他们的需求。
实测THz信号：
产品特性：
◆ 内置样品仓，可充氮气进行透反射测量
◆ 规格多样的外置光纤耦合天线可选
◆ 外置角度扫描装置可选
◆ 外置成像模块可选
◆ T3DS软件支持
TDS10XX各型号参数规格：
| 型号 | TDS1008 | TDS1010 | TDS1015 |
| 光谱范围 | 0.05 – 4 THz | 0.05 – 2.5 THz | 0.05 – 2 THz |
| 动态范围 | > 75 dB | > 60 dB | > 50 dB |
| 扫描范围(频谱分辨率) | 500 ps (2 GHz resolution) | ||
| 太赫兹光束直径 | 22 mm (准直) / 1-3 mm (聚焦) | ||
| 仪器尺寸(cm3) | 90×60×30 | 60×60×30 | 60×60×30 |
TDS10XX可选配件：
快速扫描模块 FSU 光纤耦合天线对 2FCA 角度扫描模块 T2T
成像模块 IU （电机行程可选375px、750px 、1125px） 透射样品架 SHT（放在样品仓内，用于透射谱测试）
反射样品架 SHR 光纤耦合天线架 SHF（可测试透射反射谱） 衰减全反射架 SHA(衰减全反射ATR测试)
2欧元硬币成像：
