产品描述
日立微聚焦XRF镀层测厚及材料分析光谱仪，可用于电镀、PVD和CVD操作的快速质量控制和验证测试，不论您在检测小配件、大组件或复杂配件，都能让您在几秒内轻松得到正确的结果。
我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析，可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。
优化的微聚焦硬件和直观的用户界面，简化了常规分析，提高了产出，使用“一键式”操作可确保最简单的培训就能同专业技术人员得到一样的结果。高级用户能容易地理解X荧光光谱，获得定制的校准和探索未知的材料。
性能优势
X-Strata, Eco 和 MAXXI 系列产品是专为分析功能性镀层而设计的。
耐腐蚀性
验证所用涂料的厚度和化学性，以确保在恶劣环境中的产品功能和寿命。小的紧固件或大组件都可轻松处理。
耐磨性
防止产品故障，确保在磨料环境中的关键部件的涂层厚度和均匀性。复杂的形状，薄或厚的涂层和成品都可以测量。
精饰电镀
当目标是实现一个完美的电镀时，整个生产过程的质量控制是至关重要的。牛津仪器全系列检测设备，让您放心检验基材，测试中间和顶部镀层。
耐高温
在最极端的条件下操作的表面处理必须控制在严格的公差范围内。确保镀层符合规格，避免产品召回和潜在的灾难性故障。
技术参数
正比计数器 | 半导体 | 高分辨率SDD探测器 | |
Zn / Fe, Fe 合金 | ✔ | ✔✔ | ✔✔✔ |
ZnNi / Fe, Fe 合金 | ✔ | ✔✔ | ✔✔✔ |
NiP / Fe | ✔ | ✔✔ | ✔✔✔ |
Ag / Cu | ✔ | ✔✔ | ✔✔✔ |
Cr / Ni / Cu / ABS | ✔ | ✔✔ | ✔✔✔ |
Au / Pd / Ni /CuZn | ✔ | ✔✔ | ✔✔✔ |
WC / Fe, Fe 合金 | ✔ | ✔✔ | ✔✔✔ |
纳米级薄膜分析 | ✘ | ✘ | ✔✔✔ |
多层分析 | ✔ | ✔✔ | ✔✔✔ |
IEC 62321 RoHS筛选 | ✘ | ✘ | ✔✔✔ |
产品对比
正比计数器系统
X-Strata 920 | Compact Eco | MAXXI Eco | MAXXI 5 | |
元素范围 | Ti - U | Ti - U | Ti - U | Ti - U |
样品舱设计1 | 开槽式 | 封闭式 | 封闭式 | 封闭式 |
XY样品台选项 | 固定，加深，程控 | 固定，手动 | 固定，手动 | 固定，程控 |
最大样品 | 270x500x150mm | 380x370x100mm | 470x500x170mm | 600x500x350mm |
最多准直器数量 | 6 | 1 | 1 | 4 |
最小准直器 | 0.01x0.25mm (0.5x10mil) | 0.3mm (12mil) | 0.3mm (12mil) | 0.1mm (4mil) |
软件 | SmartLink | X-Master | X-Master | X-Master |
半导体系统
Compact Eco PIN | MAXXI Eco PIN | MAXXI 5 PIN | |
元素范围 | Ti - U | Ti - U | Ti - U |
样品舱设计1 | 封闭式 | 封闭式 | 开槽式 |
XY样品台选项 | 固定，手动 | 固定，手动 | 固定，程控 |
最大样品 | 380x370x100mm | 470x500x170mm | 600x500x350mm |
最多准直器数量 | 1 | 1 | 4 |
最小准直器 | 0.1x0.3mm (4x12mil) | 0.1x0.3mm (4x12mil) | 0.2x0.05mm (8x2mil) |
软件 | X-Master | X-Master | X-Master |
高分辨率SDD
MAXXI 6 | |
元素范围 | Al – U |
样品舱设计1 | 开槽式 |
XY样品台选项 | 固定，程控 |
最大样品 | 500x450x170mm |
最多准直器数量 | 4 |
最小准直器 | 0.05x0.05mm (2x2mil) |
软件 | SmartLink |
