<用途及特点>
·该冲击试验箱为待测品静置之冷热交替冲击方式，广泛使用于电子零组件测试，半导体，电子线路板，金属化学，材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区，上部为高温蓄热区，试件（待测品）放置在试验箱中部，高温冲击时，上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门关闭，下风门打开，形成低温内循环。

<用途及特点>

·该冲击试验箱为待测品静置之冷热交替冲击方式，广泛使用于电子零组件测试，半导体，电子线路板，金属化学，材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区，上部为高温蓄热区，试件（待测品）放置在试验箱中部，高温冲击时，上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门关闭，下风门打开，形成低温内循环。

该冲击试验箱的特点是：试件（待测品）静止不动，使用户避免了因试件移动带来的诸多不便。

标准配置：φ50测试孔盖个、照明灯一盏、记录仪一台；

选配部件：计算机通讯接口，工业Pc及控制软件；

试验方法标准：

GB2423.1-89试验A，

低温试验方法．

GB2423.2-89试验B，

高温试验方法

IEC68-2-1试验A

IEC68-2-2试验

BGJB1032-90环境应力筛选方法