仪器简介：
科美（K-MAC）公司的ST2000-DLXn薄膜测厚仪适用于大学和科研中心。

技术参数：
1、尺寸 ：190 x 265 x 316 mm
2、重量 ：12Kg
3、类型 ：手动的
4、测量样本大小 ：≤ 4"
5、测量方法 ：非接触式
6、测量原理 ：反射计
7、活动范围 ：150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
8、测量范围 ：200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
9、光斑尺寸 ：20㎛ 典型值
10、测量速度 ：1~2 sec./site
11、应用领域 ：a)聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
b)电解质: SiO2、TiO2、ITO、ZrO2、Si3N4
c)半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
12、选择 ：参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
13、探头类型 ：三目探头
14、nosepiece ：Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
15、照明类型 ：12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer




主要特点：
测量迅速，操作简单

非接触式，非破坏方式

优秀的重复性和再现性

用户易操作界面

每个影像打印和数据保存功能

可测量多达3层

可背面反射