Relate 联用技术图像处理软件用于EDS, EBSD, SEM/TEM和AFM等数据的高精度联用分析，它提供了必要工具来关联不同显微镜的数据，可视化二维和三维的多层数据，并进行相关性分析。

• 组合不同成像方式采集的数据（如AFM、EDS和EBSD）

• 交互显示多层相关的数据

• 元数据查询分析工具

• 文件化的工作流程和处理

概览

相关性

• 从Aztec软件的H5oina数据格式导入数据

• 导入AFM数据

• 使用直观的图像叠加和图像匹配工具，关联两组数据

• 生成组合的多模式数据集

可视化

• 多层数据的二维显示

• 结合AFM材料特性、EM电子图像、EDS和EBSD面分布图，生成三维可视化形貌图

• 自定义调色板、数据叠加、图像渲染选项和文档显示

• 导出图像和动画

分析

• 生成多模式数据的剖面（横截面）视图

• 跨多个图层测量和量化数据

• 使用x射线计数、相分布图、高度或其他材料性质，通过数据阈值分析感兴趣区域

• 选择广泛的测量参数

• 将分析数据导出为文本或CSV文件

特点

图像展示

双相钢样品中，铬（蓝色）和镍（黄色）的EDS面分布图叠加在AFM形貌图上

双相钢样品。形貌图（AFM）和磁畴分布图（MFM，黄色）叠加EBSD相分布图（蓝色和红色）和晶界（灰度图）

电路板样品。EDS面分布图展示了氧（红色）、铝（绿色）和钛（蓝色）元素的分布，叠加在形貌图上（AFM采集）

SRAM器件的电子图像（灰度图）叠加EDS面分布图展示了砷（蓝色）和碳（红色）元素的分布

SRAM器件的表面形貌图（AFM）及EDS面分布图叠加，展示了碳（橙色）和砷（蓝色）元素的分布

图像强度转换为高度，展示了SD芯片局部的导电性