大载荷划痕测试仪Revetest (1N - 200N)
REVETEST® 划痕测试仪已被广泛应用于界定硬质薄膜的力学性能，适用的薄膜厚度一般大于1微米。应用领域包括有机薄膜、无机薄膜，摩擦学薄膜、磁性薄膜，装饰性薄， PVD, CVD, PECVD方法生产的金属镀膜、钝化膜、减低摩擦磨损系数的保护性薄膜等。基体材料可以为金属、合金、半导体、玻璃、矿物、以及有机材料等。
瑞士CSM仪器公司是世界第一大划痕测试仪器生产商，世界范围内我们已经有超过1000台Revetest 被应用在各大研究机构以及工业企业。

CSM划痕测试仪器专门用于定量测定薄膜材料的机械性质：膜基结合强度、涂层失效形式以及基体变形尺度等。划痕测试仪综合多种高精度传感器定量测定膜基系统的各种重要参数，是科学研究和工业研发质检领域不可或缺的工具。 

瑞士CSM仪器公司三十年来致力于为全球材料、物理、机械工作者提供先进、精准、全面的材料机械性质测试仪器、分析咨询以及测试服务。我们的主要产品包括：
测量材料硬度和弹性模量的纳米级、微米级仪器化压入测试仪（纳米压痕仪, 显微压痕仪）；
界定膜基结合强度、薄膜抗划擦能力的纳米级、微米级、大载荷划痕测试仪 (Scratch tester) ；
包括真空、高温以及线性往复运动等选项的摩擦磨损测试仪、纳米摩擦仪 (摩擦磨损试验机 ；
zei简便易用的膜厚测试仪；
用于三维成像表征材料表面形貌的原子力显微镜 (AFM) 和白光共聚焦显微镜 (Confocal Microscope) 。

划痕测试技术：针头在试样表面划出一条精确控制的破坏痕迹。划痕针头材料通常为金刚石或硬质合金，它以恒定加载，阶梯加载或线性加载方式划过测试材料表面。薄膜将在某一临界载荷处失效，临界载荷处的失效形式可以非常精确地由各种集成的传感器和成像工具来测量。除各种成像工具外，划痕测试仪同时集成正向载荷、切向载荷、穿透深度和声发射信号数据。这些测量信号与成像工具观察的综合分析结果，构成了各种膜基系统破坏形式的唯一标识。

正向载荷范围：0.5-200N
载荷分辨率：3mN
zei大摩擦力：200N
摩擦力分辨率：3mN
zei大划痕长度：70mm
zei大划痕深度：1mm
XY工作台：70mm X 20mm
光学显微镜放大倍率：200倍，800倍
CCD: 彩色 768 X 582

特点
金刚石划痕针头
闭环力反馈系统
声发射传感器
光学测量工具
计算机自动控制
校准稳定性
符合国际工业标准ASTM、C1624、EN 1071