[ 产品简介 ]

蔡司新一代场发射扫描电子显微镜Sigma系列，具有高质量的成像和分析能力，将先进的场发射扫描电子显微镜技术与优秀的用户体验完美结合。利用Sigma系列直观的4步工作流程，在更短的时间内获得更多的数据，提高测试与生产效率。可选配多种探测器，以满足半导体、能源等新材料、磁性样品、生物样品、地质样品等不同的应用需求。结合蔡司原位电镜实验平台，可以实现自动智能化的原位实验工作流程，高效率获取高通量、高质量的原位实验数据。领先的EDS几何设计保证了出色的元素分析性能，分析速度高、精度好、结果可靠。高分辨、全分析、多扩展、强智能、广应用，全新Sigma系列是助力于材料研究、生命科学和工业检测等领域的“多面手”。

[ 产品特点 ]

ü  独特的Gemini镜筒设计，低电压高分辨，无漏磁

ü  广泛全面的应用场景

ü  丰富灵活的探测手段

ü  智能高效的工作流程

ü  先进可靠的分析系统

ü  强大完善的扩展平台

[ 应用领域 ]

ü  材料科学，如纳米材料高分辨成像，高分子聚合物等不导电样品成像，电池材料成分衬度成像，二维材料分析

ü  生命科学，如生物样品超微结构成像，冷冻样品高分辨成像

ü  地质矿物学，如地质样品高分辨成像、成分分析以及原位拉曼联用分析

ü  工业应用，如组件失效分析，工艺诊断

ü  电子半导体行业，如质量控制与分析，6英寸Wafer快速换样，电子束曝光技术（EBL）

ü  钢铁行业，如夹杂物分析，金属材料自动原位成像分析

ü  刑侦、法医学

考古学、文物保护与修复

aBSD探测器超导合金成像

InLens SE探测器氧化锆&氧化铁复合材料成像

ETSE探测器氧化锌枝晶成像

Sense BSD探测器刺毛苔藓虫超微结构成像

氧化铝颗粒高分辨二次电子成像

NanoVP lite模式下断裂的聚苯乙烯表面成像