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Quattro-环境扫描场发射扫描电子显微镜
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Quattro-环境扫描场发射扫描电子显微镜
Quattro SEM为具有独特环境真空功能的极灵活、多功能高分辨率扫描电镜,可以将成像和分析全面性能与环境模式(ESEM)相结合,使得样品研究得以在自然状态下进行。
PIPES指数:8用户:应用:

型号型号:Quattro SEM

品牌品牌:赛默飞

产地产地:捷克

北京欧波同光学技术有限公司

黄金会员 黄金会员
核心参数
供应商性质: 总代理
产地: 欧洲
产地类别: 进口
电子枪类型: 冷场发射
价格范围: 500万-700万
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产品描述

Quattro SEM扫描电子显微镜为具有独特环境真空功能的极灵活、多功能高分辨率扫描电镜,可以将成像和分析全面性能与环境模式(ESEM)相结合,使得样品研究得以在自然状态下进行。

Quattro的场发射扫描电子显微镜电子枪(FEG)确保了优异的分辨率,通过不同的探测器选项,可以调节不同衬度信息,包括定向背散射、STEM和阴极荧光信息。来自多个多个探测器和探测器区分的图像可以同步采集和显示,使得单次扫描即可获得样品信息,从而降低电子束敏感样品的束曝光并实现真正额动态试验。Quattro的三种真空模式使得系统极具灵活性,可以容纳最广泛的样品类型,无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下,均可获得可靠的分析结果。Quattro独特的硬件有用户向导支持,不仅可以指导操作者,还可以直接进行交换,轻松缩短结果获取时间。

金属及合金、断口、焊点、抛光断面、磁性及超导材料
陶瓷、复合材料、塑料
薄膜/涂层
地质样品断面、矿物
软材料:聚合物、药物、滤膜、凝胶、生物组织、植物材料
颗粒、多孔材料、纤维
水合/脱水/湿润/接触角分析
结晶/相变
氧化/催化
材料生成
拉伸(伴随加热或冷却)

产品参数:

发射源:高稳定型肖特基场发射电子枪

分辨率:

型号

Quattro C

Quattro S

高真空

30kV(SE)

1.0nm

1kV(SE)

3.0nm

低真空

30kV(SE)

1.3nm

3kV(SE)

3.0nm

30kV(BSE)

2.5nm

环境扫描模式

30kV(SE)

1.3nm

放大倍率:6 ~ 2,500,000×
加速电压范围:200V ~ 30kV 
探针电流范围:1pA – 200nA,连续可调
X-Ray工作距离:10mm,EDS检出角35°
样品室:从左至右为340mm宽的大存储空间,样品室可拓展接口数量12个,含能谱仪接口3个(其中2个处于180°对角位置)

样品台和样品:



探测器系统:

同步检测多达四种信号,包括

样品室高真空二次电子探测器ETD
低真空二次电子探测器LVD
气体SED(GSED,用于环境扫描模式)
样品室内IR-CCD红外相机(观察样品台高度)
可用于样品导航的彩色光学相机Nav-Cam™

控制系统:
操作系统:64为GUI(Windows10)、键盘、光学鼠标
图像显示:24寸LCD显示器,WUXGA 1920×1200
定制化的图像用户界面,可同时激活多达4个视图
导航蒙太奇
软件支持Undo和Redo功能

特点与用途:

     在自然状态下对材料进行预案为研究,具有环境真空模式(ESEM)的独特高分辨率场发射扫描电镜;

     最大程度缩短样品制备时间:低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析,样品表面无荷电累积;
     在各种操作模式下分析导电和不导电样品,同步获取二次电子像和背散射电子像;
卓越的分析性能,样品仓可同时安装3三个EDS探测器,其中2个EDS端口分开180°、WDS和共勉EDS/EBSD;
     针对不导电样品的卓越分析性能:凭借“压差真空系统”实现低真空模式下的精确EDS和EBSD分析;
     灵活、精确的优中心样品台,105°倾斜角度范围,可全方位观察样品;
软件直观、简便易用,并配置用户向导及Undo(撤销)功能,操作步骤减少,分析更快速;
     全新创新选项,包括可伸缩RGB阴极荧光(CL)探测器、1100℃高真空热台和AutoScript;


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