Bruker布鲁克ContourX-100 3D光学轮廓仪

粗糙度测量的精简而经济的台式

ContourX-100光学轮廓仪以zui佳的价格为准确和可重复的非接触式表面计量树立了新的标杆。小尺寸系统采用流线型封装，可提供无与伦比的2D / 3D高分辨率测量功能，并结合了数十年专有的布鲁克白光干涉测量（WLI）创新技术。具有测量功能的台式系统具有业界zui先进的用户友好界面，可直观访问广泛的预编程过滤器库，并用于精密加工的表面，厚膜和摩擦学应用分析。下一代增强功能包括新的5 MP摄像头，更新的载物台和新的测量模式，以实现更大的灵活性。您不会发现比ContourX-100更有价值的台式设备。

ContourX-100 3D光学轮廓仪

轮廓GT-K

无与伦比的计量

ContourX-100轮廓仪是非接触表面计量，表征和成像领域超过四十年的专有光学创新和行业ling dao者的结晶。该系统利用3D WLI和2D成像技术在一次采集中进行多种分析。 ContourX-100在从0.05％到100％的反射率的所有表面情况下都非常坚固。

轮廓X-100

WLI为所有目标提供恒定且zui终的垂直分辨率。

轮廓X-100

ContourX-100手动平台。

无与伦比的价值和分析

ContourX-100台式机具有成千上万的定制分析功能以及布鲁克简单而强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面，为实验室和工厂车间的生产率进行了优化。硬件和软件相结合，可提供对ding 级高通量光学性能的简化访问，完全超越了同类计量技术。

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