仪器简介：

未来热膨胀测量技术的趋势—高精度和高分辨率。L75 激光热膨胀仪的优越性体现在精度是传统顶杆热膨胀仪的33倍。测量原理是麦克尔逊（Michelson）干涉计，因而消除了系统误差，专利保护的测量技术可以研究zei新的高科技超低膨胀材料（ULE），Linseis成功地将zei新的技术应用于此系列热膨胀仪和优化设计系统，使之易用性和传统的热膨胀仪一样。

样品的制备不需要特殊技术， 和传统的热膨胀仪制样一样简单；任何形状的样品只要尺寸不超过zei大样品尺寸都可以测量。

 

技术参数：

参数指标
原理：	激光热膨胀仪 “Michelson Prinzip”
温度范围：	-180—500°C RT—1000°C
样品长度：	up to20mm
样品直径：	up to 7mm
分辨率：	0.3 nm
气氛：	惰性、氧化、还原、真空
真空度：	10E-5mbar
样品制备：	和传统热膨胀仪一样

主要特点：
未来热膨胀测量技术的趋势—高精度和高分辨率。L75 激光热膨胀仪的优越性体现在精度是传统顶杆热膨胀仪的33倍。测量原理是麦克尔逊（Michelson）干涉计，因而消除了系统误差，专利保护的测量技术可以研究zei新的高科技超低膨胀材料（ULE），Linseis成功地将zei新的技术应用于此系列热膨胀仪和优化设计系统，使之易用性和传统的热膨胀仪一样。
样品的制备不需要特殊技术， 和传统的热膨胀仪制样一样简单；任何形状的样品只要尺寸不超过zei大样品尺寸都可以测量。

 

应用：
材料的zei高精度热膨胀测量， 材料包括：碳，石墨，复合材料，玻璃，半导体材料等。特殊材料的微结构研究， 如次级相转变等。