产品描述
英国DAGE公司 X光测试仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管（Open Tube）技术，在放大倍数方面远远超过了采用闭管（Closed Tube）技术的X光检测仪达到亚微米级，能满足客户更高精度的需求。
观察右下方的照片，你可以对该仪器在PCB和半导体行业的应用有一个大概的了解。在对物体需要进行几百甚至几千倍的放大观察时， 你一定需要该机器的协助！在制造业向生产更精巧，更密集的方向发展时，该仪器就显得必不可少，进一步的具体应用，请与我们联络！
技术参数：
| 规格 | XiDat XD7500 | XiDat XD7500VR |
| 尺寸(长x宽x高) | 1450 x 1700 x 1970mm | 1450 x 1700 x 1970mm |
| 重量 | 1900 KG | 1900 KG |
| zei小聚集光点 | 1micron | 0.95micron |
| Ｘ光发射管 | 开放管 | 开放管 |
| X 射线管电压范围 | 30-160 KV | 30-160 KV |
| zei大检测面积 | 458MM x 407MM | 458MM x 407MM |
| zei大板尺寸 | 508MM x 444MM | 508MM x 444MM |
| zei大样本重量 | 5 KG | 5 KG |
| 电源 | 单相 200-230V/16A | 单相 200-230V/16A |
| 斜角视图 | 0-70°(360°全方位检测) | 0-70°(360°全方位检测) |
| 系统（几何）放大倍率 | 1065x | 1200x |
| 辐射安全标准 | 1uSv/Hr(符合欧美标准） | 1uSv/Hr(符合欧美标准） |
主要特点：
DAGE7500 VR X光无损检测系统 主要特征：
• zei小分辨率：950纳米(0.95 微米)；
• 影像接收器左右偏转角度各70度（共140度），旋转360度；
• 图像采集:1.3M万数字CCD；
• zei大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm)；
• zei大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm)；
• 系统zei大放大倍数: 至5650X；
• 显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)；
• 安全性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等
X光检查在PCB及半导体行业中被认为是zei关键的测试步骤。在当今的封装设计中发现缺陷是非常重要的，因此，X光系统必须在不同的观察角度能够提供高分辨率、高放大倍率和高对比度的图像。
在评定一台X-Ray时，检测速度的快慢和用户友界面是否友好都是必不可少的。
DAGE XD7600 XiDAT系列X光机安装的软件版本为具有图像引导功能的DAGE11。该软件使用方便，具有进行亚微米级的观察、自动检测、动态的波动分离、图像抓拍、zei友好的用户界面等优势。
该设备是标准的配置，能够提供实时的高质量数字式的X光图像，图象的分辨率和灰阶都有很大程度的增强，zei大可达70度的倾角观察。
