产品描述
三丰Mitutoyo影像仪 非接触 3D 测量系统 Hyper QVWLI
● Hyper QVWLI 是 QV 配备白光干涉仪的复合型高精度 3D 测量系统。
● 可根据 WLI 光学系统获取的 3D 数据进行三维表面形状分析 / 三维粗糙度分析。还可根据 3D 数据，进行高度的尺寸测量和截面形状测量。
三丰Mitutoyo影像仪 非接触 3D 测量系统 Hyper QVWLI
规格
型号 项目 | Hyper QVWLI 302 | Hyper QVWLI 404 | Hyper QVWLI 606 | |
测量范围 ( X × Y × Z ) | 影像测量 | 300 × 200 × 190 mm | 400 × 400 × 240 mm | 600 × 650 × 220 mm |
| WLI 测量 * 1 | 215 × 200 × 190 mm | 315 × 400 × 240 mm | 515 × 650 × 220 mm | |
WLI 光学测头装置 | ||||
| 视场 ( H × V ) | 5X 镜头 : 约 0.64 × 0.48 mm/10X 镜头 : 约 0.32 × 0.24 mm/ 25X 镜头 : 约 0.13 × 0.10 mm/50X 镜头 : 约 0.064 × 0.048 mm | |||
| Z 轴重复性 | 2 σ≤ 0.08 µm | |||
| 影像光学测头装置 | ||||
| 观察装置 | 程控电动转塔 1X-2X-6X | |||
| 图像传感器 | B&W CCD ( 1/2 吋 ) | |||
| 影像测量 精度 * 2 | E 1X /E 1Y | ( 0.8+2L/1000 ) µm | ||
| E 1Z | ( 1.5+2L/1000 ) µm | |||
| E 2XY | ( 1.4+3L/1000 ) µm | |||
*1 WLI 光学测头的可移动范围。
*2: 按照本公司检查方法。 L 为任意 2 点间的尺寸 ( mm ) 。
