XFlash 6-30 结合了出色的能量分辨率和 30 毫米更大的固体角度®活动区域芯片。这使得探测器对希望在EDS应用的整个谱图中使用探测器的分析中非常有吸引力，从轻元素分析到快速面扫描Mapping，以及EDS和EBSD测量的结合。XFlash 6-30 一定会提供快速的结果。®

总之，XFlash 6-30 具有以下优点：®

• XFlash 6-30 出色的能量分辨率（Mn K® 的 123 eV，C K® 的 45 eV 和 F K+ 的 53 eV）®

• 其他可用分辨率为 Mn K® 的 126 eV 和 129 eV

• 极高的脉冲处理能力

• 出色的轻元素和低能量X-ray分析性能（Be - Am 元素范围）

• 空气冷却，不会因为其他冷却系统而产生震动

• 电源打开后立即可用

• 运营成本低

• 免维护操作

• 小尺寸，包括 slim-line technology finger

• 重量低

XFlash 6-30 的推荐应用领域包括：®

• 用于 SEM、microprobe、FIB-SEM 的 EDS 系统（焊接波纹管可作为选项使用）

• 将 EDS 和快速 EBSD 分析与eFlash  FS 相结合

• 快速元素面扫描