薄膜厚度测量仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。了解详细信息，敬请致电济南兰光

 薄膜厚度测量仪特　　征
 微电脑控制、液晶显示
 菜单式界面、PVC操作面板
 接触式测量
 测头自动升降
 自动进样
 手动、自动双重测量模式
 数据实时显示、自动统计
 显示zei大值、zei小值、平均值和统计偏差
 可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
 标准接触面积、测量压力（非标可选）
 显示zei大值、zei小值、平均值和统计偏差
 标准量块标定
 RS232接口
 网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输 

薄膜厚度测量仪技术指标
 测量范围：0～2mm
 　　　　　0～6mm；12mm（可选）
 分 辨 率：0.1μm
 测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
 接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
 　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
 进样步距：0～1000mm
 进样速度：0.1～99.9mm/s
 电　　源：AC 220V 50Hz
 外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）
 净　　重：32kg

薄膜厚度测量仪标　　准
 GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
 配　　置
 标准配置：主机、标准量块一件
 选 购 件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码