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比表面及孔隙率测试仪JW-122F
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比表面及孔隙率测试仪JW-122F
PIPES指数:7.9用户:1应用:

型号型号:JW-122F

品牌品牌:精微高博

产地产地:北京

北京精微高博仪器有限公司

黄金会员 黄金会员
核心参数
产地类别: 国产
产地: 中国大陆
供应商性质: 生产商
仪器种类:
价格范围:
价格范围: 10万-30万
孔径分析仪/静态比表面产品推荐
产品描述

仪功能
 比表面测定:    BET(单点、多点)、Langmuir、外表面测定;
 BJH孔径分布测定:    总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布;
 微孔常规分析:    微孔总孔体积、总内表面积(t-图、D&R、MP等)
 微孔孔径分布分析:    氮分压10-8 - 10-1范围的等温吸附曲线测定                                           0.35 - 2nm微孔孔径分布测试(HK、FS、NLDFT法
 
技术参数
 测定仪原理方法:  低温氮吸附,静态容量法
 测定仪吸附气体:  高纯氮气,也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体
 测定仪极限真空:  ≤ 10-6 Pa ( 7.5×10-9  Torr)
 测定仪氮气分压:  1×10-8 –0.995
 测定仪控制精度:  测试压力点控制zei小间隔可小于0.1 KPa (0.75  Torr) ,测试压力点可多达一千个
                          多级压力传感器压力测试精度达0.0001Pa (7.5×10-7 Torr)
                          10-8-10-1范围测试压力点大于50点
 测定仪测试范围: 0.005 M2/g,无规定上限
                          介孔孔径分析 2 - 400nm
                          微孔孔径分析0.35 - 2nm
 测定仪测试精度:  ≤±1.5%
                            0.35-2nm 微孔zei可几孔径重复误差 ≤0.01nm
 测定仪测试效率:  多点BET比表面每样平均20min
                         孔径分析时间随材质不同各异
 测定仪预 处 理: 两样品同位处理,真空低于0.1Pa, 温度50 - 400℃,±1℃
 测定仪专用软件: BET(单点、多点)、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、
                          HK、FS、NLDFT等
 

 


标准
药典
用户
  • 中科院上海有机化学研究所

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