产品描述
OP-XCT 既可以作为时间补偿双单色仪，也能用于成像光谱。可诊断光谱仪研究形成HHG 激光源，也可以改变出射狭缝处镜面位置，输出单色光照射样品。
软X-RAY 光谱仪列表
o= 标准或者可选项，单道多道指的是探测器
|
型号 |
波段 (nm) |
光谱分辨率 (nm) |
焦长 (mm) |
单道 |
多道 |
成像 |
真空 |
高真空 |
光学设计 |
|
248/310G |
<1-310 |
0.018 |
1,000 |
o |
o |
o |
o |
掠入射罗兰圆结构 |
|
|
251 |
10-170 |
0.05 |
292 |
o |
o |
o |
o |
VLS 平场超环面 |
|
|
251MX |
1-20 |
0.02 |
5,649 |
o |
o |
o |
VLS 平场光栅 |
||
|
XCT |
8-120 |
0.1 |
2,000 |
o |
o |
o |
o |
o |
掠入射 C-T 结构，8° AOI |
|
OP-XCT |
8-120 |
0.08 |
800 |
o |
o |
o |
o |
o |
掠入射 C-T 结构，5° AOI |
掠入射C-T 结构
• 基于传统C-T 结构
• 掠入射 >80 度入射角
• 采用平面光栅
• 良好点到点成像效果
• 高通光量
• 单点扫描或CCD 成像探测
• 光谱范围： 8-120nm
• 代表型号：XCT,OP-XCT
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