型号：1120218
品牌：
产地：
测厚仪
蛋壳厚度测量仪 ESTG-01
面接触施纸张厚度仪
测量薄膜或片状材料的厚度均匀性 附件： 台式支座 样品砧 标准测头 可选配重使样品的压力达到要求
可选测量V型缺口深度刀头.
4位数字显示器 测量速度3m/sec 测量施力：20g+ -0.2 手动置零装置 串行输出口用于连接打印机
测量薄膜或片状材料的厚度均匀性 分辨率可至0.001mm,测厚范围为12.5mm或25mm
可测量V型缺口深度.
Orion Star A 便携式高端溶解氧测量仪
岩心/土壤高光谱成像仪
奥豪斯 SC310 pH电极
透射电镜（TEM）用氮化硅薄膜窗口
激光单粒子效应模拟测量系统
超低温高效节能冰箱U410-HEF, U570-HEF, C660-HEF & U725-G
856电导率仪
MXX-5分析天平
型号：1120218
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