集成了五项专利技术：

◇ 用于原子荧光光谱仪的顺序注射进样装置
专利号：ZL******7

◇ 去除水蒸气装置
专利号：Z******0

◇ 化学气相发生气液分离装置
专利号：ZL 2005 2 0001620.3

◇ 用于氢化物发生法的在线消除还原剂气泡装置
专利号：ZL 2005 2 0109988.1

◇ 氢化物发生原子荧光测量尾气中有害元素的捕集阱装置
专利号：ZL 2005 2 0110557.7

应用领域：

食品卫生检验、环境样品检测、城市给排水检验、农产品检验、地质冶金检测、化妆品检验、纺织纤维样品检测、教学研究、临床医学样品检验、药品检验、土壤饲料肥料检验

技术指标：

检出限DL：
AS、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn：＜0.01μg/L

Hg、Cd：                                     ＜0.001μg/L

Ge：                                            ＜0.05μg/L

Zn：                                            ＜1.0μg/L

Au：                                            ＜3.0μg/L

相对标准偏差RSD：                    ＜1％
线性范围：                                  大于三个数量级
 

仪器主要特点：

◇ 用于样品中As、Se、Bi、Hg、Se、Te、Sn、Ge、Pb、Zn、Cd、Au元素的痕量分析；
◇ 光源：采用集束式脉冲控制方式；
◇ 进样系统：氢化物发生装置及内置式顺序注射泵进样系统；
◇ 原子化器：低温自动点燃氩-氢火焰，屏蔽式石英原子化器；
◇ 具备化学气相发生气液分离装置；
◇ 具备氢化物发生原子荧光测量尾气中有害元素的捕集阱装置；
◇ 开机自检，气路自动控制、自动保护、自动报警；
◇ 自动在线稀释、清洗、单标准自动配置标准曲线；
◇ 标准的RS—232/485通讯，功能强大的中英文软件操作系统，可实现自动系统诊断、自动样品测量、标准曲线测量，多种报告格式，并备存专家帮助系统。

独特的可升级功能模块：
◇ 主机配自动进样器即可实现全自动分析；
◇ 配形态分析部件和相关操作系统，即可进行As、Se、Hg、Sb等元素的形态分析；
◇ 配专用气态汞检测装置，可实现空气中超痕量汞的测定；
◇ 配专用水中超痕量汞检测装置，可检测海水、地表水中超痕量汞（检出限≤0.0002μg/L）；
◇ 配直接进样测镉装置，可直接检测固体、液体样品中的镉，无需样品前处理；
◇ 配直接进样测汞装置，可直接检测固体、液体样品中的汞，无需样品前处理；
◇ 配直接进样测汞镉同测装置，可同时直接检测固体、液体样品中的汞和镉，无需样品前处理。