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Nanolink SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪
20参考价
Nanolink SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪
纳米粒度及Zeta电位分析仪
PIPES指数:8.2用户:应用:

型号型号:Nanolink SZ901

品牌品牌:真理光学

产地产地:珠海

珠海真理光学仪器有限公司

黄金会员 黄金会员
核心参数
产地: 中国大陆
产地类别: 国产
价格范围: 10万-30万
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产品描述

NanolinkSZ901系列是真理光学在S900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度分析系统,采用动态光散射(DLS)技术进行纳米粒度测量,被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。

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NanolinkSZ901纳米粒度分析仪的杰出性能和主要特点包括:

    ◆经典90°动态光散射技术测量粒径,测量范围覆盖0.3nm–15μm

    ◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源,仪器即开即用

    ◆独创的余弦拟合法(CFLS)优于目前的频谱分析法(FFT)和位相分析法(PALS)

    ◆独创的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术

    ◆独创的信号光与参考光的光纤合束及干涉技术

    ◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器

    ◆常规温度控制范围可达-10°C~120°C,精度±0.1°C

    ◆新一代高速数字相关器,动态范围大于10¹¹

    ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术

    注:* 取决于样品及样品池选件

测量原理动态光散射(DLS)、静态光散射(SLS)、电泳光散射ELS
粒径测量角度90°,173°(高浓度),12°(Zeta电位),
粒径测量范围0.3nm -15um*
粒径测量最小样品量3ul*
粒径测量最小样品浓度0.1mg/ml
粒径测量最大样品浓度40%/wv
Zeta电位技术余弦拟合位相分析法(CF-PALS)
适用Zeta电位测量的粒径任意范围,无明确限制
迁移率范围1nm - 120μm*
最大电导率270mS/cm
电导率准确度±10%
电极插入式平板电极、U型毛细管电极
检测点位置距入射点0~5mm可调
检测点定位精度0.01mm
分子量范围340Da - 2x107Da
温度控制范围-10°C -  120°C
温度控制精度±0.1°C
光源集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW, 波长638nm固体激光器
相关器高速数字相关器,自适应通道配置
检测器高灵敏度APD
样品池12mm比色皿、3μL毛细管超微量样品池、40μL微量样品池(多种可选)
系统重量16kg
外形尺寸365mm x 475mm x 180mm (LxWxH)



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