仪器简介：
全球专业的高真空表面分析设备制造商，为各个领域的客户提供完善的薄膜分析解决方案.

相关设备：
1.高分辨电子能量损失谱仪(HREELS)；
2.低能量电子衍射仪(LEED)；
3.电子能量分析器(CMA)；
4.俄歇谱仪；(Auger)
感谢厦门大学化学系，中科院物理所使用此设备做表面研究！！

技术参数：
高分辩电子能量损失谱仪:
超高分辨率:0.5 meV FWHM
保证传感器电流不小于10pA at 1.0 meV resolution (FWHM) 
使用new electrostatics deflectors with controlled angular aberrations*
低噪音数字式控制电子,由菜单驱动软件控制
用户自己选择能量扫描范围(zei大到 50 eV)  for vibronic/electronic applications 

Reverse View LEED / Auger
Reverse View LEED是世界上zei早的商业化LEED装置。经过十余年的生产研发经验的积累，Reverse View LEED已经发展成为具有优秀的性能、极佳的稳定性和丰富的软件的LEED装置，而且衍生出了一系列其它LEED型号。
● 电子束能量范围0 ~ 3500 eV
● 可视角度达102度
● 可选配AES (Auger electron spectroscopy) 功能，能量分辨率好于0.5% FWHM ( Combination LEED and Auger control electronics with integral lock-in amplifier)
● 可选Video LEED对LEED图形进行采集和分析，以及I(V)、I(t)分析
● 可选W-Th灯丝或LaB6灯丝

MCP-LEED (Micro-channel plate control electronics)
MCP-LEED采用了高灵敏度的多通道板设计，专门用于要求极低的一次电子束流的分析中，例如敏感材料、绝缘体等。
● 极低的一次电子束流，0.1 ~ 30 nA
● zei多两级多通道板
● 可视角度达70度
● 极低的噪声水平和极高的稳定性

主要特点：
•温度控制器：基底加热
•LN2 or CW 冷却系统
•离子泵+钛升华泵：超高真空
•机械泵+分子涡沦泵
•带自动样品递送的Loadlock样品加载系统