型号:TM4000
品牌:日立
产地:中国
SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature扫描电镜 应用于机械设备
牛津仪器扫描电镜SEM专用颗粒物分析系统 — 可检测Materials
Helios DualBeam™扫描电子显微镜
暂无
日立高新磁控溅射器MC1000
日立质谱检测器Chromaster 5610
Regulus系列 (超高分辨场发射扫描电子显微镜)
日立新型超高分辨冷场发射扫描电镜 Hitachi SU9000