X射线衍射仪AL-Y3500A

AL-Y3500A衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。

硬件系统和软件系统的完美结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要。

• 高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果

• 高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度

• 各种功能附件满足不同测试目的需要

• 程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观

  X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：

• 未知样品中一种和多种物相鉴定

• 混合样品中已知相定量分析

• 晶体结构解析（Rietveld结构分析）

• 非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）

• 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度

• 微区样品的分析

• 金属材料织构、应力分析

仪器主要技术参数