特点

 123 eV FWHM Resolution @ 5.9 keV

 高计数率 >1,000,000 CPS

 超高峰背比 - 26,000:1

 Be window (0.5mil) 或可以配套AMPTEK C2（Si₃N₄）

 T-08 一体化封装

 制冷 ΔT> 85K

   前置放大器输出成峰时间 <60 ns

   抗辐射

   Si晶体厚度500um

内置多层准直器

   70 mm² 准直后有效面积 50 mm²

应用

• 超快的台式和手持式分析仪

• SEM系统中用EDS进行扫描和绘图

• 在线过程控制及分类设备

• OEM定制应用

封装方式：可以适用AMPTEK所有封装产品，完全匹配

XR100FASTSDD with PX5

X-123FASTSDD

OEM Configurations

Vacuum Applications

分辨率：Be(0.5mil) and C windows