仪器简介：

以下摘自牛津仪器中国网站www.oichina.cn

新型的X-Max SDD具有超大面积的探测器，使您的工作效率提高十倍以上，使您的能谱分析的空间分辨率提高十倍以上，开创了真正的纳米分析的新纪元。

“这个新产品改变了人们对EDS的观点，不再为工作效率和分析的准确度所困扰。在几年前还不能想像，这个新产品让我们的能谱分析达到了目前能谱分析至少十倍以上的分析速度。” 牛津仪器全球新产品技术总监Dan Varnam说,“这是我职业生涯中zei令人振奋的一次新产品发布。”
X-Max SDD的探测器面积从20mm2到80 mm2, 能量分辨率及稳定性性能极佳，在计数率超过100,000cps下测试结果低至123eV。

相比传统的SDD，新的X-max：
分析速度提高10倍 —— 大大提高了分析测试的工作效率。
分析尺寸减小10倍 —— 实现了同时的纳米颗粒的成像和成份分析。
更短的时间采集数据 —— 减少分析时对样品的污染。
低束流下超过100,000cps的高计数 —— 不损坏样品。

这个新产品的主要优点是性能提高的同时不影响分析结果和精确度。一些用户已测试过这些新产品，美国著名的阿巴拉契亚州物理科学大学Phil Russell博士说“在我使用这个产品的几个月里，印象很深的是所得到的测试结果。它真正充分发挥了现代SEM所具备的纳米分析的优势，提高后的灵敏度和计数率能让我在不可置信的水平上研究纳米材料，在使用了这个探测器后，我进入了一个纳米分析的新纪元。”

主要特点：

超大能谱探测器有效面积

大大减小对束流的要求，在实际的工作条件下即可提高计数率

对低电压，小束流下纳米结构的快速Mapping非常有利

尤其适合场发射扫描电镜及纳米材料的研究

分辨率可低至123eV（Mn Ka），并不随探头面积增大而改变

20mm2，50mm2，80mm2可选;

8小时现场修复，无需送返工厂